美国Microvision System成立�?993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT，PLASMA� HDTV� OLED� HUD� HDD投影机等，应用于R&D� QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬、�/strong>

系统功能说明９�/span>

Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析、�/strong>

SS445大屏幕显示屏测量系统

系统简介：

SS445是一款显示屏测试系统专门设计于测量大屏幕显示屏。这个包括了投影显示屏高达电影院屏幕的尺寸，来自于任何一个现有的投影引擎技术、�/span>

系统采用了电动Pan & Tilt机械实现移动到所要的测试位置。系统配置了1.4MP CCD相机�?或者一个衍射光栅光谱仪、�/span>

在操作中，系统是固定在显示屏的前方进行测试的。模式发生器或者Microvision的MVRemote是用于自动显示测试模式或者有需要的话可通过客户的系统生成图像、�/span>

SS445专门设计于从观察器的角度来测量显示屏，由于是真实可见的因此能更好地测量出显示屏的性能。完全定义显示屏可快速地测量出多个观察器的位置。操作员进入到所要的测试位置（X和Y或者像素坐标），测试可实现全自动化，并且系统会自动找到以及在这些位置运行所要进行的测试�

测试性能９�/span>

SS445的测试性能包括了大型显示屏的所有类型测试� 这些系统的性能都由安装了什么传感器来决定的（相机和/或者光谱仪）。总的可测试参数如下：

CCD相机９�/span>

- MTF

- 线宽

-几何国�/span>

-收敛测量

-亮度均匀�?/span>

-Jitter� Swim� Drift

-伽马/灰阶

光谱�?/span>

-亮度

-色度和色�?/span>

-亮度和色彩均匀�?/span>

-频谱国�/span>

-伽马

-对比�?/span>

-色差

SS445 规格参数９�/span>

Pan&Tilt组件

-分辨率：0.0032��

-承载性能９�/span>9 lbs

CCD相机

-图像传感器：1392x1040 pixels

-数字视频９�/span>12-Bit

-元素尺寸９�/span>6.45 ��m square pixels

-同步９�/span>Synchronous Capture

-视场９�/span>20mm @ 1m� adjustable

-工作区域范围９�/span>0.5 to 3.5 meters

-数字变焦９�/span>Up to 32X

-亮度精度９�/span>+/- 4% @ 2856k

-亮度范围９�/span>0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters

-测量时间９�/span><1 sec for most measurements

光谱�?/span>

-波长范围９�/span>380 to 780nm (1000nm opt)

-亮度范围９�/span>0.01 to 500K cd/m2

-亮度精度９�/span>+/-3% @ 2856 illuminant A

-亮度重复率：RSD over 30 minutes < 0.5%＋�/span>0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD

-色彩精度９�/span>+/- 0.002 @ 2856K

-色彩重复率：+/- 0.0005 @ 2856K

-集成时间９�/span>16.7 � 5000 msec (sync@60hz)

-温度控制９�/span>Computer Controlled

-光学９�/span>12mm Collimated

-接受角度９�/span>1.5��

-光学分辨率：3.8nmFWHM @ 100��m slit

-校准９�/span>NIST Traceable

-操作温度９�/span>5�� to 30��C