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光学仪器及设夆/a>
测量/计量仪器
实验室服加/a>
光谱检测分析仪
测厚?/a>
辐射测量仪器
电子测量仪器
工业在线及过程控制仪?/a>
视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。超宽光谱显微分光光度计TIDAS MSP 400
TIDAS MSP 系统适用范围:
- 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谰/span>
-关于反射率(?暗场)所有应用程序,偏振或荧光,取决于所选择的配?/span>
-获取时间小于1科/span>
-通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集
-灵活可调的控光装?/span>
-灵活运用于法医学(MSP 400/800),岩相学(MSP 200),材料学和生物学(MSP 200/400)
-光电倍增器或 CCD 探测?/span>
-可适应不同制造商的显微镜
概述
有机发光二极管(OLED)正在开发的下一代显示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛,目的是衡量和比较的光谱输出,每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。有机发光二极管(OLED)有一个发光的电致发光层,在支持矩阵有机分子组成。显示,这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色,与不同的有机化合物像素可以产生全彩色,高分辨率显示的不同颜色 OLED显示单元,不像传统的液晶显示器(LCD),**的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着,OLED显示屏更轻更薄,比一个液晶显示屏,使用更少的电力。然而,强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是TIDAS J&M MSP400/800分光光度计得到使用的关键、/span>TIDAS J&M MSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速,并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台,TIDAS J&M MSP400/800可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图,可为每个设备生成。如TIDAS J&M MSP400/800可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器,整个OLED显示器可以快速,准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度,以及从设备到设备的一致性。以及在平板显示器领域,用来检查红、绿、蓝点阵的薄膜厚度和杂质水平。同时TIDAS J&M MSP400/800在半导体工业领域,可以用来发现能发荧光的微小污染物,以及在硅片被切成芯片前测量硅衬底上薄膜的厚度。J&M 公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统、/span>
TIDAS MSP 400
使用J&M的TIDAS MSP 400你可测量在透射模式下光纤的VIS光谱和在反射模式下(明场和暗场)光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360 nm?80 nm。对于偏振实验,补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。偏振光谱受限于光学显微镜,?50 nm 700 nm。在反射模式下,光谱范围?60 nm 780 nm。荧光测量和多套滤波器都是可用的(紫外光,蓝光和绿光激励是正常标准)。此外,快速扫描的单色光源?60 nm 680 nm)也是可用的。全光谱?40 nm 900 nm)通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域,由灵活可调测量隔膜给出。使?0X物体时,*小光斑区域是2m?m的。如果显微镜提供紫外光能力,MSP 400可升级到MSP 800、/span>
软件和配仵/strong>
J&M的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。您可以创建你自己的谱库为有效的库搜索。该仪器采用亅/span>CIE色彩评估体系,并能够产生互补的色度坐标值(CCC认证)、/span>波长和光度计的精度可通过灰色或钬滤波器实现简易的检查,这作为配件、/span>
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