仪器简介：组合式多功能X射线衍射�?/span>Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学**皃�/span>CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试、�/span>技术参数：

1. X射线发生器功率为3KW

2.测角仪为水平测角�?/span>3.测角�?小步进为1/10000�?/span>4.测角仪配程序式可变狭缜�/span>5.高反射效率的石墨单色�?/span>6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有（�/span>7.小角散射测试组件8.多用途薄膜测试组仵�/span>9.微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学独有）11.高速探测器D/teX-Ultra

12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装�?/span>XRD-DSC

13.分析软件包括９�/span>XRD分析软件包�?/span>NANO-Solver软件包�?/span>GXRR软件包等

主要特点９�/span>

组合式多功能X射线衍射�?/span>Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域、�/span>可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材斘�/span>可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样�?/span>

主要的应用有９�/span>

1.粉末样品的物相定性与定量分析

2.计算结晶化度、晶粒大導�/span>

3.确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5.薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密�?/span>

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结枃�/span>

7.小角散射与纳米材料粒径分市�/span>

8.微区样品的分枏�/span>