MEMS探针主要应用于集成电路电路的芯片的性能检测、/strong>
电沉积工艺可以根据探针的不同用途,制作出不同特性的半导体检测探针,例如,某些芯片需要高导电性的探针,我们可以通过改变材质,改变表面材质特性来制作出高导电性的探针,也可以根据要求,制作出高弹性,高抗振动疲劳的探针,高接触性以减小?小的信号减,让信号传递更完整、/p>