一、概�?/strong>

SR-M针对特定微小区域，可提供微米级的聚焦光斑，同时利用显微物镜定位测量点，从而获取精准位置的厚度表征结果、�/span>

� 光斑大小可进行定制，*小可达到10um：�/strong>

� 非接触、非破坏测量：�/span>

� 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析：�/span>

� 配置灵活、支持定制化

二、产品特炸�/strong>

�采用高强度卤素光源，光源稳定性好：�/span>

�采用光机电高度整合一体化设计，体积小，操作简便；

�基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析单层薄膜到多层；

三、产品应�?/strong>

广泛应用于各种介质保护膜、有机薄膜、无机薄膜、金属膜、涂层等薄膜测量、�/span>