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X射线仪器
气体检测仪
半导体行业专用仪?/a>
MNPVO36垊/span>多次衰减全反尃span>ATR附件是红外光谱仪配套使用的附件,用于定性定量常规检测液体、粉末、溶胶、糊状物、聚合物薄膜等样品的化学成分,也可以用于研究。本ATR附件适用于按GB/T 7764-2017《橡胶鉴定红外光谱法》标准的测定样品,用于反射分析法(衰减全反尃span>ATR)图谱采集。使用特点:- 应用多次衰减全反射;
-附件核心部件是多次衰减全反射棱镜,为了达到全反射效果棱镜采用折射率比样品更高的材质,棱镜是跟框架构成一体可以更换的部件,置于附件外壳上方,可以随时拆卸以便清洗或者更换;
-跟普通样品池不一样,样品吸收有效光程长度高度一致,因为其长度在特定棱镜材料和参数是固定的;
-7次内部反射保证高灵敏度的低浓度的测量:span>
-多次衰减全反尃span>ATR附件是厂家事先调好了,不需要用户调试、/span>
MNPVO36垊strong>多次衰减全反射ATR附件主要技术指标:
光谱范围 cm-1
|
650}span>4000
|
ATR附件棱镜材质
|
ZnS
|
棱镜进口和工作平面之间夹觑span>
|
45
|
棱镜尺寸(长?/span>x厚度(/span> mm
|
36x4
|
反射次数
|
7
|
有效吸收光程,微籲span>
|
1~50
|
棱镜制作其他可选材斘span>
|
Ge Si
|
附件尺寸,不含压枵span>
|
130100138
|
MNPVO36垊strong>多次衰减全反射ATR附件应用案例9span>
?(/span>聚乙烯薄膛span>MNPVO图谱
使用FSM1201型傅里叶红外光谱仪,MNPVO型多次衰减全反射ATR附件+span>ZnSe棱镜,光谱分辨率4cm-1,测量时闳span>2秒、/span>
'span>2)研究工作应用:参考资斘/span>9/span>Correlations in Infrared Spectra of Nanostructures Based on Mixed Oxides
ISSN 1063-7834 Physics of the Solid State 2015 Vol. 57 No. 12 pp. 2373?381. . Pleiades Publishing Ltd. 2015.
基于混合氧化物的纳米结构的红外光谱图相关性的研究
采用SnO2-SiO2体系Sol-Gel溶胶—凝胶技术制造用于传感器的纳米薄膜,?span>INFRASPEK FSM 1201型傅立叶红外光谱仪及配套MNPVO36垊span>ATR衰减全反射附件测定不同组成的溶胶图谱并找出相关性(国span>1,下国/span>)、/span>
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