ECA-NY01农艺形态测量仪

名称９�/strong>农艺形态测量仪型号９�/strong>ECA-NY01产地９�/strong>中国

用途：

本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等，测量数值直接保存在SD卡中，并有专业软件形成作物农艺形状调查表、�/span>

技术参数：

1、有卡测量：读ID样品卡后自动识别样品

2、无卡测量：26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号；

3、可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数：�/span>

4、大容量SD�?G储存�?多可储存100万组测量数据，生成TXT文档，并可转化为Excl表格：�/span>

5、测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号；

6、可以通过软件生成各种农艺测量报告表格：�/span>

7、测量范围：0-3000mm；精度：1mm；误差：1mm ：�/span>

产地：中囼�/span>

Email:

Shanghai@Dianjiangtech.com(上海)

Beijing@Dianjiangtech.com(北京)

Kunming@Dianjiangtech.com(昆明)

Hefei@Dianjiangtech.com(合肥)

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