仪器简介：

纳米粒度测量——先进的动态光背散射技�?/span>

随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定�?0多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。作为行业的先锋，早�?990年，超细颗粒分析仪器 UPA（UltrafineParticle Analyzer）研发成功，**引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念，快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布�?001年，利用背散射（Back-scattered）和异相多谱勒频移（HeterodyneDoppler Frequency Shifts）技术，结合动态光散射理论和先进的数学处理模型，NPA150/250将分析范围延伸至0.3nm-10��m，样品浓度更可高达百分之四十，基本实现样品的原位检测。异相多普勒频移技术采用可控参考稳定频率，直接比照因颗粒的布朗运动而产生的频率漂移，综合考虑被测体系的实时温度和粘度，较之于传统的自相关技术，信号强度高出几个数量级。另外，新型“Y”型梯度光纤探针的使用，实现了对样品的直接测量，极大的减少了背景噪音，提高了仪器的分辨率、�/span>

测量原理９�/span>

粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处琅�/span>

分子量测量：水力直径或德拜曲纾�/span>

光学系统９�/span>

3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路

软件系统９�/span>

先进的Microtrac FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输�?输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出� Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积�?微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符�?1 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等、�/span>

外部环境９�/span>

电源要求�?0-240VAC�?A�?0/60Hz

环境要求：温度，10-35��C

国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 � ISO22412:2008

主要特点９�/span>

? 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱泔�/span>

? 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性、�/span>

? 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度、�/span>

? 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性、�/span>

? 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method），迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间、�/span>

? 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度、�/span>

? 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度、�/span>