日立FT110A概要９�/strong>

�?978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化、�/p>

通过自动定位功能，只需把样品放在样品台上，便能在数秒内自动对准观察样品焦点，省略了以前手动逐次对焦的操作，大幅提高了测量效果、�/p>

型号名称：FT110A

测量元素：原子序�?2（Ti）~83（Bi（�/strong>

检测器：比例计数管

X射线管：管电压：50kV 管电流：1mA

准直器：4种（��0.05mm�?#934;0.1mm�?#934;0.2mm�?#934;0.025��0.4mm（�/strong>

样品观察：CCD摄像头（可进行广域观察）

X-Ray Station：电脑�?9英寸液晶显示�?/strong>

膜厚测量软件：薄膜EP法、标准曲线法

测量功能：自动测量、中心搜紡�/strong>

定性功能：KL标记、比较表礹�/strong>

使用电源�?20V/7.5A

特长９�/span>

1.自动对焦功能 自动接近功能

在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，即可�?秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性、�/p>

●自动对焦功�简便的摄像头对�?/p>

●自动接近功胼�/strong> *适合位置的对�?/p>

2.通过� 薄膜FP法提高测量精�?/strong>

实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便、�/p>

●新 薄膜EP�

减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

无标样测量方法可进行*�?层的膜厚测量

●自动对焦功能和距离修正功能

凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

●灵敏度提高

镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

●生成报告功胼�/strong>

一键生成测量报告书

3.广域样品观察

对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间、�/p>

●广域图像观寞�/strong> 轻松定位