概要９�/span>

使用新开发的X射线聚光用多毛细管的产品阵容诞生了。另外，FT150系列以X射线检测结构为中心，对各类元件进行**优化，从而大幅提高了检测灵敏度，在不损失检测精度的前提下实现了的高处理能力。并且，对设备进行了重新设计，使得样本室的使用，以及对检测点的检查变得更为容易、�/p>

参数９�/strong>

基本参数９�/p>

型号：FT150（标准型）FT150h（高能量型）FT150L（大型线路板对应（�/p>

测量元素：原子序�?3（Al）～92（U�

X射线源：管电压：45 kV

FT150：Mo� FT150h：W� FT150L：Mo�

检测器：Si半导体检测器（SDD）（无需液氮�

X射线聚光：聚光导管方�

样品观察：CCD摄像头（100万像素）

对焦：激光对焦、自动对�

**样品尺寸：FT150:400(W)��300(D)��100(H)mm

FT150h:400(W)��300(D)��100(H)mm

FT150L:600(W)��600(D)��20(H) mm

工作台行程：FT150:400(W)��300(D)

FT150h:mm400(W)��300(D)

FT150L:mm300(W)��300(D) mm

操作系统：电脑�?2英寸液晶显示�

测量软件：薄膜FP法（*�?层膜�?0元素）、检量线法、定性分�

数据处理：Microsoft Excel、Microsoft Word 安装

安全功能：样品门联锁

消耗电量：300 VA以下

特点９�/span>

1．显微领域的高精度检浊�/strong>

通过采用新开发的多毛细管，以及对探测器的优化，在实现照射半径等同于旧有型号FT9500X�?0 ��m（设想FWHM� 17 ��m）的基础上，进一步将处理能力提高到了2倍以上、�/p>

2．产品阵容适应各类检测样�?/strong>

针对检测样本的不同种类，可在下�?种型号中进行选择、�/p>

　　●测量引线架、连接器等各类电子元器件的微型部件、超薄薄膜的型号

　　●能够处理尺寸为600 mm��600 mm的大型印刷电路板的大型印刷电路板用型叶�/p>

　　●适合对陶瓷芯片电极部分中，过去难以同时测量的Sn/Ni两层进行高能测量的型叶�/p>

3．兼顾易操作性与安全�?/strong>

放大了开口，同时样本室的门也可单手轻松开闭。从而提高了取出、放入检测样本的操作简便性，并且该密封结构也大大减少了X射线泄漏的风险，让用户放心使用、�/p>

4．检测部位可�?/strong>

通过设置大型观察窗、修改部件布局，使得样本室门在关闭状态下亦可方便地观察检测部位、�/p>

5．清晰的样本图像

使用了分辨率比以往更高的样本观察摄像头，采用全数码变焦，从而消除位置偏差，可以清晰地观察数�?#956;m的微小样本、�/p>

另外，亦采用LED作为样本观察灯，无需像以往的机型那样对灯泡进行更换、�/p>

6．新GUI

将各类检测方法、检测样本都以应用程序图标的形式进行了登记。图标皆为检测样本的照片、多层膜的图示等，因此登记、整理起来就很方便，从而使得用户可以不走弯路，直接进行检测、�/p>

使用检测向导窗口来指导操作。通过与检测画面联动，逐步引导用户执行当前所需进行的工作、�/p>