仪器简介：

美国** 日本技� 90%市场占有� 是金�?半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内

技术参数：

俄歇电子能谱�?/strong>

? He以上所有元素纳米（�?nm）表面定�?表面定量/亚表层以及深度方向信�

1� 成分

2� 图像

3� DETECT LIMIT 0.1%

4� *小束� 6纳米

5� 仪器型号PHI 700 清华，宝�?004�?005年购�

6� 报价 不含�?00万美釐�/p>

主要特点９�/strong>

He以上所有元素纳米（�?nm）表面定�?表面定量/亚表层以及深度方向信�?/p>