重金属含量检测仪

全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF�

X射线荧光光谱分析�?XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF 分析法可以：

根据荧光的波长和能量，确定元素；

各元素的浓度可根据荧光的强度进行计算�

X射线由Mo靶或W靶产生，在Ni/C人工多层膜上反射并单色化。扁平的光束以非常小的角�?0.3 � 0.6 ��)掠射装有样品的样品架，并产生全反射。样品所产生的特征荧光被能量色散探测�?XFlash? detector) 探测，强度通过偶合的多通道分析器测量�

与常规的XRF*大的不同，全反射荧光（TXRF）是使用了单色光和全反射光学部件。以全反射光束照射样品，降低了吸收、以及样品及衬底材料对光的散射。结果是大大降低了背景噪音，因此有高的多的灵敏度和明显地降低了基体效应�

全反射荧�?TXRF)的主要优点是，相对于其他原子波谱分析法，如AAS � ICP-OES，无记忆效应�

全反射荧光分析法，样品必须制备在能全反射X射线的样品架上。因此，样品架的直径30mm，材料通常是丙烯酸或石英玻璃�

液体样品直接滴在样品架上，通常是使用微量移液管转移几微升（?l）试液到样品架上。然后在干燥器里蒸发或在烘箱中干燥�

固体样品，有不同的制样方法。粉末样品（悬浮质、土壤、矿物、金属、色素、生化样品，等等）可以把样品直接放在样品架上直接测量。典型的方法是，使用小勺或无尘纸转移几微克（?g）的样品到样品架上�

单个的微量样品（颗粒，长条等）也可以用类似的方法直接制样�

另外，粉末样品可以使用挥发性溶剂如甲醇制成悬浮液，悬浮液用移液管转移到样品架上，还可以使用微波消解的办法、�/p>

主要特点９�/strong>

可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析，元素范围13Al-92U，含量范围ppb�?，检出限�?pg�

需要样品量少，液体及悬浮物样品1-50微升，粉末样�?0微克以内�

便携式全反射荧光仪，设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场进行分析�

1位及25位全自动进样器两款设计，分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析�

第四代XFlash?SDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术，不需要液氮，没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps�

由于全反射无背景，荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好，用户不需要标样就可以进行定量分析、�/p>

应用：水、废水、土壤中的污染元素；血液、尿液、组织中的有毒元素；食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域�