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MProbe NIR薄膜测厚?/div>
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德国
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产品概述

采用近红外光?NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS CdTe)可以快速的测量、/p>

测量范围: 100 nm -200um

波长范围: 900 nm -2500 nm

适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层 软件包含大量材料?超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy Tauc-Lorentz Cody-Lorentz EMA筈/p>

测量指标：薄膜厚度，光学常数

界面友好强大: 一键式测量和分析、/p>

实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理、/p>

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