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TXRF全反射X射线荧光光谱仪S2 PICOFOX
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痕量分析 TXRF 光谱?/span>

快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,检出限?pg

需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样?0微克以内

便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析

1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析

第四代XFlash?SDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率优于160eV at MnKa 100Kcps

由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析、/span>

行业应用9/span>

水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域、/p>

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