F50薄膜厚度测量�?/span>

自动化薄膜厚度绘图系绞�/span>

依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得zui大直徃�span>450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采�?span>r-��极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图、�span>F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量、�/p>

系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式、�/p>

可测样品膜层

基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：

FILMeasure软件提供两种分析模式９�span>Sepectru-Matching不�span>FFT。在Spectrum-Matching模式中，您可以分析厚� 与折射率。反正，FTT模式虽然只能测量厚度，但在较� 的薄膜厚度测量，FFT的分析能力更为健全、�/p>

选择Filmetrics的优劾�/span>

?桌面式薄膜厚度测量的全球**耄�/p>

? 24小时电话＋�span>E-mail和在线支�?/p>

?所有系统皆使用直观的标准分析软仵�/p>

附加特�?/span>

?嵌入式在线诊断方弎�/p>

?免费离线分析软件

?精细的历史数据功能，帮助用户� 效存储，重现与绘制测试结枛�/p>