产品描述９�/span>

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析、�/span>

Bowman BA-100 Optics机型采用业界***的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度、�/span>

Bowman BA-100 Optics机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应*严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求、�/span>

优秀的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的**XRF镀层厚度及元素成分分析仪器、�/span>

稳定的X射线箠�/span>

�微聚�?0瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑炸�/span>

�射线出射点预置于射线管Be窗正中央

�长寿命的射线管灯东�/span>

�独有的预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

�显著提高X射线信号强度

�获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

�小于100um直径的测量斑炸�/span>

�经过验证，接�?*的测量精�?/span>

应用领域９�/span>

常见的镀层应�?

PCB行业

Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引线框架

Ag/Cu

Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行丙�/span>

Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材

Sn/Cu

珠宝、贵金属

10�?4�?8Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等