ES03是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度多入射角光谱椭偏仪，仪器波长范围从紫外到近红外、�/p>

ES03多入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k、�/p>

ES03系列适合于对样品进行实时和非实时的检测、�/p>

特点９�/h3>

• 原子层量级的检测灵敏度

  国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的纳米薄膜，膜厚精度达到0.05nm、�/div>

• 秒级的快速测�

  快速椭偏采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件，在保证高精度和准确度的同时，10秒内快速完成一次全光谱椭偏测量、�/div>

• 膜厚测量范围�

  膜厚范围从次纳米量级�?0微米左右、�/div>

• 一键式仪器操作

  对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求、�/div>

应用９�/strong>