双光束紫外可见分光光度计SDW-1901介绍

双光杞�/span>紫外可见分光光度计SDW-1901是采用全新设计的双光束光学系统提供了优异的光学性能，设计先进的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和极低噪声，主要应用在医疗卫生，环保污水，食品饮料，化学品检测，生物产业，石油化工，电厂等相关行业、�/span>

技术参�?/span>

显示方式�?英寸 320��240 点阵带背光数� LCD

光源灯：预调德国贺利� DX 氘灯 欧司朗长寿命卤钨�?/span>

光学系统：精密双光束光学系统

接口：USB，RS232C串行通讯口用于接配软件，并行打印口用于接配打印机

光谱扫描功能：主机及软件支持

电源电压�?00V�?40V 50/60��1Hz

仪器尺寸�?50��450��230（mm（�/span>

温度�?��C-40��C

湿度：≤85%

净重：26Kg

分光光度计功胼�/span>９�/span>

��全新设计的双光束光学系统提供了优异的光学性能；高性能的全息闪耀光栅，确保了仪器的低杂散�?

��设计先进的电路测控系�?使仪器具有高度的稳定性和极低的噪�?

��可拆卸结构的样品室设计，易于更换不同的附�?以满足不同的分析需�?

��宽敞型开放式光源室设计，使灯源更换更加方�?

��关键部件均选用进口器件.保证了仪器性能的高可靠�?

��windows 环境下开发的中英文操作软件，.提供了丰富的独具特色的分析功�?.

技术参�?/span>９�/span>

产品型号	SDW-1901
测光方式	透过率、吸光度、能野�/span>
波长范围	190 nm�?100 nm
光谱带宽	0.5/1/2/4/5nm
杂散先�/span>	�?#177;0.03 %T　(220 nm �?60nmNaL)
波长准确�?/span>	�?#177;0.3 nm
波长重复�?/span>	�?.1nm
波长显示 波长设定	0.1nm 0.1nm
光度范围	0-999.9%(T)� -4 A�? A�?-999�?C�?-9999F
光度准确�?/span>	�?#177;0.3 %T (0�?00 %T)
	�?#177;0.002A(0�?.5A)
	�?#177;0.004A(0.5�?A) �?#177;0.006A(2.0A�?
光度重复�?/span>	�?.15%(T) (0-100%T) �?#177; 0.001 A (0�?.5 A)
	�?#177;0.002A(0.5�?A)
基线平直�?/span>	�?#177;0.0008 A (190nm-1100nm)＋�/span>
分光� 稳定�?/span>	全息光栅 �?#177;0.0003A/h (700nm，开机预�?h)
噪声	�?#177;0.0003 A
电源	100/240V�?0/60��1Hz
导数分率	>0.5

扫描速度	波长移动;�?000nm/min，波长扫揎�24nm/min-1400nm/min

光源切换波长

可自动切换，可在295-364nm范围内任意设定切换波镾�/span>

仪器功能:

��光度测量 可同时测�?�?个波长处的透过率和吸光�?

��光谱测量 在波长范围内进行透过率、吸光度、和能量的图谱扫描，并可进行各种数据处理� 峰谷检测、导数运算、谱图运算等.

��定量测量 单波长、双波长、三波长和多波长测定.1�?点工作曲�?1�?�?回归.

��动力学测� 在任意设定的波长处进行透过率和吸光度的时间扫描并可进行各种数据运算.

��数据输出 可进行数据文件和参数文件的存取，测量结果以标准通用的数据文件格式输 �?

PC版软件功能：

基于Windows环境下开发的UVCON控制软件，可对主机进行全面控制、�/span>

包括数据采集（单点测量、多点测量、光谱扫描、定量测定、时间扫描及DNA测定）和各种数据处理、�/span>

� 标准化、峰谷检测、面积计箖�/span>

� 图谱的放大、缩小、平滑、倒数、四则运算、T－A转换

� 单波长、多波长定量测定

� K系数法、一点工作曲线法、多点工作曲线法，可进行1�?次函数拟吇�/span>

� 定量分析中的异常点剔除法

� 可对曲线系数进行校正

� 扫描图谱、工作曲线和测试结果可海量存�?/span>

� 测试报告以标准文件格式输凹�/span>

� 打印机可以任意选择