一、荧光分布成像系统（EEM View）简今�/strong>

作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球首创将相机与荧光分光光度计�?*结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息、�/p>

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法＋�/span>可以同时得到反射和荧光成分图像、�/span>

二�?/span>荧光分布成像系统特点９�/span>

1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）

�?span>不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：��20mm、空间分辨率�?.1 mm左右、波长范围：360-700nm（�span>＋�/span>同时利用先进的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图僎�span>�根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界�?样品：LED电路�?

2. 样品安装简单，适用于各种样品测诔�/span>

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

丰富的样品支枵�/span>

支持精确测量的校正工其�/span>

荧光分布成像系统是一秌�strong>全新的技�?/strong>，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域、�/span>