仪器简介：

RELIOTRON阴极发光�?/p>

阴极发光仪利用非破坏性的阴极发光技术，多数用于碳酸盐岩中的沉积岩以及碎硝岩等固体样品结构和组成的定性分析手段。同时不会对样品造成任何破坏。它具有换样快速方便，设计简单紧凑的特点。适用光学显微镜及数码成细系统联机使用，更适合现在的科研和教学实验要求。此外，该阴极发光仪的样品室对样品的制备范围广，并对于适合低温产生阴极光的岩石样品控温能力强、�/p>

在传统的领域及岩石学领域，业已证明阴极发光仪用于材料成分、二次结晶、共生、断裂填合、辐射环、化石和有机残留物中的骨骼结构、胶结过程的描述、自生长石和自生石英的鉴定、砂石等的胶结、矿物在分离过程中的辨认等研究中具有极高的价值。在宝石学中，阴极发光仪已用于宝石特性的识别（确定原产地或识别是否是人造宝石）以及人造宝�?*程度鉴定、�/p>

阴极发光技术的应用已经超越了传统的地球科学和行星学领域，大量的物理、化学研究和工业应用已经出现在玻璃、陶瓷、半导体、液晶和合成材料研究等领域。此外，阴极发光技术在法医学、考古学、材料科学等新的方向具有发展前途，阴极发光仪与EDS检测器的联机可获得相关样品的X射线光谱特征和元素分析、�/p>

技术参数：

USA RELION III CL仪器的技术规格说昍�/p>

� 源：220V�?0-100Hz 交流电源

使用 环境：温�?30℃、湿�?60%

真空样品室：带有上下含铅玻璃窗，底部窗口用于显微镜透射光使用，上部窗口用于观察阴极发光。带有精密真空控制阀真空复合管，自动排气阀，手动排气阀，样本抽屉；室内备有颗粒状的样品架、平板式样品架、托盘支架，密封圈等易更换。真空室上端带Reentrant Window观察窗，*短工作距离为5-7mm，以�?0X等高倍数物镜使用、�/p>

样品 托盘：可同时安装三个标准的薄片。无需调节样品托盘，就能检测松散颗粒、芯片或方块状样本；

真空 系统：高性能真空泵，具有前级板门和去雾器，这两者可用标准件替换。真空软管带有两个，用于向真空室传递时减小振动、�/p>

� � 度：**极限�?.25帕，**限度保护样品、�/p>

� � 枪：电子枪是一种水平式冷阴极电子束射线型，高达30 KV，通常使用�? KV�?5 KV之间调节、�/p>

� � 电压�?-30KV，过压保护、�/p>

* � 电流�?.15-1mA，连续可测，过流保护�?*束流可到5mA、�/p>

� 焦：能够散聚焦到点聚焦的调节功能，电子束光斑可根据样品适用要求调节、�/p>

� � 显示：电压、电流、真空度、自�?手动操作模式及仪器状态、高压开启、电子枪输出极限等等、�/p>

显微镜要求：适合多种不同型号的显微镜，在物镜和载物台之间，必须为真空室的高度保留足够空间。通常使用长工作距离的物镜及聚光镜即可实现空间的需求、�/p>

主要特点９�/strong>

RELION INDUSTRIES� USA� 生产的RELIOTRON品牌� RELION III CL阴极发光仪是经过地质学专家，专业设计研究生产出的新产品，其产品设计在射束高压、射束电流、操作中的真空度等做了较好稳定性控制，并在其他方面也有突出之处，例如缩小工作距离，XY坐标可同时改变，双手同时操作来移动样本；一直延续冷阴极水平式电子束输出技术，以保证低温矿物（像包裹体）及晶体等阴极发光的观测；产品开发还考虑到更换样品时切断束流电压，节约了换样时间。为观测不同样品，RELION INDUSTRIES设计了多种样品承载器；为缩小工作距离，为用户设计了Reentrant Window观察窗，方便不同使用需求的用户。在绝大多数应用领域，阴极发光仪只需要少量样品，测试前无需对样品进行涂层等前处理，而且测定过程不会对样品造成任何损坏。阴极发光仪可以根据工作目的安装在各种显微镜上，例如偏光显微镜、实体显微镜、金相显微镜等。以下为阴极发光仪与各个品牌显微镜结合使用的照片９�/p>

USA RELION III CL技术特炸�/p>

高真空技术和全构造材料设计，保证了真空度和使用安全，通常1分钟内能够迅速达到工作需要的真空�?00毫托的实验条件，并可快速更换样品，一般该仪器**束流设定为额�?mA�?*电子束压可达�?0KV的高压。水平式激发冷阴极电子束，通过磁铁转变电子束的方向，使它照射在测试样品上；众所周知，在物理学上讲，磁铁只转换电子束的方向，不会产生能量的损失。这样工作的方式是实现冷阴极非常有效的条件，可获�?*的视野效果和有效的高亮度图像。并可调整散焦到点聚焦连续调节，即调节电子束流和束压，同时实现了真空样品室装置便捷地安装在显微镜载物台上，并根据使用的物镜倍数及不同型号显微镜使用时，可快速地更换标准观察窗和高倍数物镜准备的Reentrant Window观察窗。通常的薄片样品既可直接使用，无需进一步处理，既可使用薄样品也可以使用厚样品。还可将分析附件扩展为EDX分析仪对样品进行半定量分析，同时还可以与微区取样仪MICRODRILL SAMPLING结合使用，并可做图像精确定位，以便准确取样。下面左右图显示的是同一方解石样品经透射光和阴极光的照片:

备注：左图中清晰的橙黄色为Mn 含量高的部分；Mn 含量的高低在阴极光下直接显示出来、�/p>

典型的花岗岩与晶石， 斜长石， 磷灰石， 石英CL图片、�/p>

斑状安山长石的CL图片、�/p>