508 PV?显微镜分先�/span>光谱仪设计用�?/span>给您的光学显微镜或探测台增加先进皃�/span>光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和色度�?/span>等功能。拥有前沿的光学、电子学和软件等优势，它可以用来更新老旧的显微分光计、�/span>

508 PV?附加到开放的图像端口＇�/span>photoport）上让您能够收集到纤显微样品的透射比、反光率、偏振甚至是荧光性和发冷光性能。它拥有CRAIC公司产品Lightblades?分光光度计的特点，可测量光谱的范围是紫外光到近红外光、�/span>您使�?/span>508PV?甚至可在不破坏的情况下迅速轻松地获得次微米级样品高质量的光谱的图像、�/span>

508 PV?显微镜分先�/span>光谱�?/span>是一款理想的多用途仪器，例如用于平板显示器像素点的色度学、镜质体煤块和源岩的反射测定法，或者是光学器件和半导体的薄膜厚度测量、�/span>

主要特点

��拥有Lightblades?分光光度计的特点，专为显微光谱学设计

��用户可选择从深紫外光到近红外光范围的光谰�/span>

��250臲�/span>1000纳米可用光谱范围

��**调整，可变测量区埞�/span>

��热电冷却可用来改善信噪比和保持长时的稳定�?/span>

��分辨率高＋�/span>*多可辽�span>5百万像素，还带有数字彩色成像......

��拥有Lambdafire?分光计、成像控制和分析软件�Lambdafire?也包括触屏控制、�/span>

��透射比显微光谱学

��反射率显微光谱学

��偏振显微光谱�?/span>

��薄膜厚度测量

��显微样品的色度学

���?span>rIQ?包测量折射率

��自动操作

��对样品温度精确地控制

��包括数据分析、光谱数据库、图像分析以及更多的专业软件

��NIST可追踪显微分光计标准

��使用及维护都很容昒�/span>

��出自显微光谱学专家之扊�/span>

紫外-可见-近红外光谰�/span>

508 PV?结合了成像系统，设计用来附加到任何带有图像端口的显微镜上。它可以配置成工作范围为深紫外光到可见光再到近红外光如此宽广的范围，让您的系统拥有测量如膜厚度和色度学等数据的新功能、�/span>508 PV?带有Lightblades?科技的特点，甚至允许您测量微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱、�/span>

荧光�?/span>

The 508 PV? 甚至可以装配用来测量微米级样品的荧光性和冷光光谱学性能。因丹�/span>508 PV?带有Lightblades?科技的特点，也有测量从紫外光到近红外光的荧光性和冷光性能，所以它是显材料科学、生物学、地质学等显微荧光测定的强大工具、�/span>

偏振

偏振显微光谱�?/span>

经过装配�508 PV?可以获得显微样品的偏振光谱的图像。它带有科技的特点，它的偏振显微光谱学能力让您能够快速轻松地获取双折射以及其他类型样品的光谱、�/span>

光谱表面映像

光谱表面映像由自动光谱分析软硬件包和用显微镜立体分辨得到的样�?span>5D映像组成。样品吸光度、透射比、反射率、释放光谱和拉曼光谱皃�/span>5D图像可以生成、�/span>

成像和显微镜

高分辨率数字彩色成像

508 PV?分辨率高，复杂精细的软件使它能够数字彩色成像。它让您能够同时看见分光光度计入口光圈和样品，这样您就能够轻松地测量样品并获得任何条件下的全尺寸彩色图像、�/span>

508 PV?显微镜分光光度计可以装配用来获取从深紫外光到近红外光范围内的光谱，它也可以附加到显微镜上来获取吸光度、反射率和荧光性的光谱和图像、�/span>