GD-Profiler 2是一款可进行超快镀层分析的理想工具，非常适合于导体（�?或）非导体复合镀层的分析。可分析70多种元素，其中包括C、H、O、N和Cl。一次测试可轻松获取镀层元素深度分布、镀层厚度、镀层均一性及表面/界面等信息、�/p>

GD-Profiler 2可分析几纳米�?00微米的深度，深度分辨率小�?纳米。GD-Profiler 2采用了脉冲式射频辉光源，可有效分析热导性能差以及热敏感的样品。此外，还采用了多项**技术，如高动态检测器（HDD）可测试ppm-100%的浓度范围，**Polyscan多道扫描的光谱分辨率�?8pm~25pm等。主要应用领域包括镀锌钢板、彩涂板、新型半导体材料、LED晶片、硬盘、有机镀层、锂电池、玻璃、陶瓷等等、�/p>

技术参数：

1、射频发生器-标准配置、复合D级标准、稳定性高、溅射束斑极为平坦、等离子体稳定时间极短，表面信息无任何失真�

2、脉冲工作模式既可以分析常规的涂/镀层和薄膜，也可以很好地分析热导性能差和热易碎的�?镀层和薄膜、�/p>

3、Polyscan多道（同时）光谱仪可全谱覆盖，光谱范围从110nm-800nm，可测试远紫外元素C、H、O、N和Cl�

4、HORIBA的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器拥�?*的光通量，因而拥�?*的光效率和灵敏度、�/p>

5、高动态检测器（HDD）可快速、高灵敏的检测ppm-100%含量的元素。动态范围为5��1010、�/p>

6、宽大的样品室方便各类样品的加载、�/p>

7、功能强大的Quantum软件可以灵活方便的输出各种格式的检测报告、�/p>

8、HORIBA独有的单色仪（选配）可极大地提高仪器灵活性，可实现固定通道外任意一个元素的同步测试，称为n+1、�/p>

9、适用于ISO14707�?6962标准、�/p>

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