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北京石墨烯研究院有限公司
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产品简今/div>
型号9/span>美国FEI Quattro S
功能9/span>用于材料表面、断面形貌观察,微区成分定性定量分析、/span>
技术参数:
﹠/span>分辨率:1.0nm?0KV, SE(/span>
﹠/span>附件:X射线能谱?/span>(EDS(/span>、电子背散射衍射?/span>(EBSD(/span>
﹠/span>放大倍数9/span>300万倌/span>
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