产品介绍

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析� � BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的光学检测系统� 该系统中集成了背� +90°动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技� SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分 布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可 广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域� 基础研究和质量分析与控制、�/p>

基本性能指标

粒径检浊�/strong>

原理	动态光散射技�?/span>
粒径范围	0.3 nm � 15 μm
样品野�/span>	3 μL � 1 mL
检测角�?/span>	173 °+90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zate电位测试

原理	相位分析光散射技�?/span>
检测角�?/span>	12°
Zeta范围	无实际限刵�/span>
电泳迁移率范図�/span>	> ±20 μm.cm/V.s
电导率范図�/span>	0 - 260 mS/cm
Zeta测试粒径范围	2 nm � 120 μm

分子量测诔�/strong>

分子量范図�/span>

342 Da � 2 x 107Da

微流变测诔�/strong>

频率范围	0.2 � 1.3 x 107rad/s
测试能力	均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔野�/span>

粘度和折光率测试

粘度范围	0.01 cp � 100 cp
折光率范図�/span>	1.3-1.6

趋势测试

时间与温�?/span>

系统参数

温控范围	-15°C - 110°C ，精度� 0.1°C
冷凝控制	干燥空气或者氮氓�/span>
相关�?/span>	50 mW 高性能固体激光器� 671 nm
电泳迁移率范図�/span>	�?span style="font-family: 微软雅黑, ">25 ns采样，≤ 4000通道�?011动态线性范図�/span>
检测器	APD （高性能雪崩光电二极管）
光强控制	0.0001% - 100%，手动或者自�?nbsp;

软件

中文和英斆�/span>

符合21CFR Part 11

检测参�?/span>

●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布

●分子量

●分布系� PD.I

●扩散系� D

●流体力学直� DH

●颗粒间相互作用力因� kD

●溶液粘�?/p>

检测技�?/span>

●动态光散射

●静态光散射

●电泳光散射

相关技�?nbsp;