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透射电子显微镜原?原子尺度双倾力学测试系绞/div>
透射电子显微镜原?原子尺度双倾力学测试系统的图片
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北京
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高级会员 2平/div> 称: 百实创(北京)科技有限公司
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产品简今/div>

INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)、/p>

产品介绍9/strong>

BST-INSTEMS-M使用的MEMS集合精密的芯片结构与压电驱动器,力学加载方向与双倾台平面平行。高精度力学驱动?.1nm等级驱动)与双倾系统互不干扰,能在力学加载的同时稳定的观察高质量原子尺寸的像。另外,可根据客户需求配置不同结构的芯片,满足不同尺寸形状不同加载模式力学实验要求、/p>

突出优势9/strong>

1、多种力学加载模式:

拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳

自动/手动/循环加载

牛顿级驱动器(> 100 mN)

pm级驱动控

2、双轴倾转9/p>

轴倾转**?#177;20

轴倾转**?#177;10

3、稳定的原子尺度成像9/p>

极限样品漂移?0 pm/s

空间分辨率≤0.1 nm

技术指栆/strong>

**驱动劚/p>

> 100 mN

**驱动范围

4 m

驱动精度

< 500 pm

空间分辨玆/p>

?.1 nm

应用领域

高强钡/p>

纳米

高强铝合

钛合釐/p>

纳米薄膜

…?/p>

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