产品简介：BSD-PS1型比表面积及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于�?%。测试范围：比表�?.0001m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌，远销海外，获得多项国内技�?*,技术国�?*、�/span>

产品特点Features:

� �?nbsp; 2个样品预处理脱气站，1个样品分析站：�/p>

� �?nbsp; 全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示：�/p>

� �?nbsp; BEST多路歧管模块，英福康检漏仪出厂检测，保证仪器真空度和稳定性；

� �?nbsp; 预处理：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；

(**名称：静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置 **号：ZL2011201369439)

� �?nbsp; 贝士�?*的脱气位滤尘袋，彻底消除对仪器内部结构的污染
结合贝士�?*的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高、�br data-filtered="filtered"/>(**名称：具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附�?**号：ZL201620714986.3)

� �?nbsp; 非阻隔式防污染装置，彻底解决样品污染系统，影响仪器稳定性的问题：�/p>

(**名称：具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析�?**号：ZL201320045881.X)

� �?nbsp; 独立P0测试站具有独立的饱和蒸汽�?P0)测试站，保证分压测试的高准确性、�br data-filtered="filtered"/>(**名称：静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装�?**号：ZL201120136959.X)

� �?nbsp; 饱和蒸气压螺旋P0管：采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，使得测试的饱和蒸汽压更接近真实�?与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏�?%的问�?，提高测试精度、�br data-filtered="filtered"/>(**名称：饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析�?**号：ZL201620716311.2�?nbsp;

� �?nbsp; 独立的高精度饱和蒸汽压（P0）实时测试站：�/p>

� �?nbsp; 智能投气量控制，提高实验效率：�br data-filtered="filtered"/>

� �?nbsp; 脱气处理�?.4.8个预处理站可选，采用全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停、程序升温、定时结束，可实现无人值守测试和样品脱气处理、�/p>

� �?nbsp; 智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气；

� �?nbsp; 自动加盖：仪器必须具有液氮杯自动加盖功能，能够有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰；

(**名称：加盖装置及静态法比表面及孔径分析�?**号：ZL201420148358.40)

� �?nbsp; 详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯：�/p>

� �?nbsp; 超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行；

� �?nbsp; 液氮杯防意外"安全下降"智能控制机制,完全避免液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险；

� �?nbsp; 大容量小口径杜瓦瓶保温时长大�?40小时，连续测�?6小时无需添加液氮：�/p>

� �?nbsp; 多项**技术保障仪器稳定性和准确性；
� �?nbsp;多组分竞争吸附IAST理论模型：该理论模型可根据纯组分的吸附等温线，模拟计算得到混合组分竞争吸附等温线，用于多组分竞争吸附的理论预测；

�?nbsp;

测试理论Test Theory:

� �?nbsp;吸附、脱附等温线：�/span>

� �?nbsp;BET单点法，多点法比表面：�/span>

� �?nbsp;朗格缪尔（Langmuir）比表面：�/span>

� �?nbsp;统计吸附层厚度法外比表面（STSA）；

� �?nbsp;粒度估算报告和真密度：�/span>

� �?nbsp;BJH法吸脱附孔容孔径分布：�/span>

� �?nbsp;MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布：�/span>

� �?nbsp;t-plot法微孔分析；

� �?nbsp;MP�?Brunauer) 微孔分析：�/span>

� �?nbsp;D-R法微孔分析；

� �?nbsp;HK法微孔分析；
� �?nbsp;IAST理论：�/span>

测试报告 Testing Report: