编号：FTJS08746
篇名� 熔融制样-X射线荧光光谱法同时测定稀土矿石中萤石、重晶石及天青石
作者： 李可� 张丽� 熊文�
关键词： 熔融制样 X射线荧光光谱� 萤石 重晶� 天青� 稀土矿�
机构：中国地质科学院矿产综合利用研究所 中国地质调查局稀土资源应用技术创新中忂�br>摘要� 建立了熔融制�?X射线荧光光谱�?XRFS)同时测定稀土矿石中萤石、重晶石及天青石含量的方法。参考DZ/T 0130.2-2006制备样品粉末,�?50 mL水磁力搅拌溶解样品中的硫酸钙,静置后弃去部分上清液,剩余溶液体积�?0 mL。随后加入与剩余溶液等体积的含钙和锶的乙酸溶�?于电热板上微�? min,再补加与剩余溶液等体积的乙醇,混匀静置后过�?排除样品中的碳酸钙、碳酸钡和碳酸锶等干扰。将滤纸及沉淀转移至铂-金坩埚内,烘干后置于马弗炉�?�?00℃灰�?补加二氧化硅至灰分质量达�?.800 0 g,加入8.000 0 g混合熔剂(由质量比�?2�?2的四硼酸锂和偏硼酸锂混合而成)�?.1 g脱模剂碘化铵,�? 100℃熔�?20 s,所得样片按照XRFS工作条件测定。以纯物质和标准物质混合熔融配制的标准样品系列制作校准曲�?以基本参数法校正基体效应,将氧化钙、氧化钡和氧化锶的含量转换成氟化钙、硫酸钡和硫酸锶�?以表征萤石、重晶石和天青石的含量。结果显礹�校准曲线的相关系数均大于0.999 5;方法用于自制样品及实际样品的分析,自制样品的测定值与已知值基本一�?实际样品测定值的相对标准偏差(n=6)均不大于2.0%�