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半导体行业专用仪?/a>
其他
光学仪器及设夆/a>
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X射线仪器
无损检?无损探伤仪器
Sonoscan超声波扫描显微镜Gen7 C-SAM检测系
特点和好夃/span>
在双28‛/span>4k显示器上查看更多图像、/span>
使用先进的用户界靡/span>Sonolytics 2?forWindows10?做更多事情、/span>
获得率高达六倍的结果更好、/span>
扫描较大的部件,扫描区域增加23%、/span>
使用五个独立电机可以缩短采集时间、/span>
Gen7 C-SAM检测系统是声学微成像的zui新一代、/span> Gen7基于其前代产品的进步,提供了迄今为止zui先进的硬件。先进的硬件允许新功能和分析,现在可以比以前更快地完成、/span>
PolyGate+/span>SonoSimulator,虚拟重新扫描模式(VRM)和频域成像'/span>FDI)等高级功能增加了价值和信心。凭借其大型,易于访问的照明扫描区域+/span>Gen7能够有效扫描从小部件?/span>350mm尺寸部件的所有内容、/span>
除了充满颅/span>xian的创新之外,Gen7的设计充分考虑了用户的需求。其符合人体工程学的特点使其使用起来既舒适又方便。新垊/span>Sonolytics 2是一款先进的操作软件,具有全新的,更直观的操作界面菜单,有助亍/span>zui大限度地提高结果,同时节省操作时间、/span>
Gen7是真止/span>zui先进的声学显微镜,提供一系列技术,人体工程学和先进皃/span>Nordson SONOSCAN开发的功能,这在其他任何地方都找不到、/span>
第七仢/span>
产品规格
检验方弎/span>
?同时轻松捕捉100张图僎/span>
Visual PolyGate?、/span>
?使用可自定义的方式创建信息图僎/span>
颜色映射方案、/span>
?灵活的扫描模式:
◆span>A-Scan显示传感器信号、/span>
◆span>B-Scan提供横截面图像、/span>
◆span>C-Scan是二维平面图像、/span>
◇散装扫描显示均匀材料的缺陷、/span>
◆span>Multi-Scan可以生成不同级别的多个图像、/span>
◇表面扫描显示表面有缺陷、/span>
◇回波损耗(LoBE)揭示了连续性缺陷、/span>
◆span>Nordson SONOSCAN独有皃/span>Q-BAM?(定野/span>B扫描分析模式)是样品的聚焦截面图、/span>
◆span>THRU-Scan(通过透射图像)通过样本的可选阴影图视图、/span>
◇同时直通扫描和反射'span>STaR)一种可选功能,可在一次通过中生成直通扫描图像和重选图像、/span>
◇同旵span>ASF和反射(SASFaR)选项允许在一次扫描中使用两种模式、/span>
?精确的波形分析模式:
◆span>FDI?(频域成像)回声频率响应显示其他方法未见的细节?*7?22?80咋/span>6?90?02
◇幅度捕获峰峰值信叶/span>
和极性、/span>
◇配置文件跟踪界面的位置、/span>
◇时差评估距离或厚度
两个接口之间、/span>
◆span>Integration Mode?可轻松发现多层样品中的缺陷、/span>
◆span>ASF?(声表面平整度)是一种可选功能,可测量表面的曲率或翘曲?*8?94?72
?使用附带的高级触发工具安全地捕获图像9/span>
◇正,负?#177;交叉触发、/span>
◇在Front Interface Echo'/span>FIE),Main Bang戕/span>Gated Trigger设置开始、/span>
◇使用动态触发精确定位图层并使用动态门控锁定位置、/span>
?使用AUTOSCAN?节省重复设置的时间、/span>
单个按钮开始扫描多个区域,并自动对齐,居中和聚焦每个区域。通过我们皃/span>DIA功能完成自动化和集成分析、/span>
?VRM?(虚拟重新扫描模式)存储100%的A-Scan回波数据,以在任何模式下重现图像,而无需重新扫描实际样本、/span>
?DIA?(数字图像分析仪)高级算泔/span>
量化自动接受/拒绝标准的结果、/span>
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