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光谱检测分析仪
危险化学品检测专用仪?/a>
农业和食品专用仪?/a>
产品概述
ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制?ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界**水平,可以帮助您可以获得极高的光谱信噪比、/span>
ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5?.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择、/span>
ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出:/span>
特点9/span>
紫外增强高性能背照式CCD
专门针对紫外优化的光路和结构:/span>
探测器:背照式CCD
探测器像素:3072
超低噪声CCD信号处理电路
光谱范围: 165-1100 nm
光谱分辨玆 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽?
光路结构:交叉C-T
积分时间?ms-130s
供电电源:DC 5V10% @ <2.3A
18 bit 570KHz A/DConverter
光输入接口:SMA905或自由空闳/span>
数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
20针双排可编程外扩接口
典型应用9/span>
拉曼光谱?/span>
微量、快速分光光度计:/span>
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测;
反射率检测;
紫外、可见和短波近红夕/span>
波长检浊/span>
探测?/span> |
|
类型 |
线阵背照式CCD |
探测光谱范围 |
165-1100 nm |
有效像素 |
3072 |
像元尺寸 |
600m8m |
全量程范図/span> |
~200 ke- |
灵敏?/span> |
6.5 uV/e- |
暗噪?/span> |
6 e- |
光学参数 |
|
波长范围 |
165-1100 nm |
光学分辨玆/span> |
0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围) |
性噪毓/span> |
>1000:1 |
动态范図/span> |
3000? |
工作温度 |
-10-40 oC |
工作湿度 |
< 85%RH |
光路参数 |
|
光学设计 |
f/4 交叉非对称C-T光路 |
焦距 |
40 mm for incidence / 60 mm for output |
入射狭缝宽度 |
5?0?5?0?00?50?00 m 可选,其他尺寸可定刵/span> |
入射光接叢/span> |
SMA905光纤接口、自由空闳/span> |
电气参数 |
|
积分时间 |
1 ms - 130 second |
数据输出接口 |
USB 2.0 |
ADC位深 |
18 bit |
供电电源 |
DC 5V10% |
工作电流 |
<2.3A |
存储温度 |
-20C to +70C |
操作温度 |
-10C to +40C |
物理参数 |
|
尺寸 |
10272034 mm3 |
重量 |
0.3 kg |
Sealing |
Anti-sweat |
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