特点

• 123 eV FWHMResolution @ 5.9 keV

• 髗�/span>计数玆�/span>>1�?00�?00 CPS

• 趄�/span>高峰背比- 26�?00:1

• Be window (0.5mil) 戕�/span>可以配套AMPTEK C2（Si3N4（�/span>

• T-08 一体化封装

• 制冷��T> 85K

• 前置放大器输出成峰时� <60 ns

• 抗辐尃�/p>

• Si晶体厚度500um

• 内置多层准直�?/p>

• 70 mm2准直后有效面�?/span>50 mm2

应用

?超快的台式和手持式分析仪

? SEM系统中用EDS进行扫描和绘国�/span>

?在线过程控制及分类设夆�/span>

? OEM定制应用

封装方式９�/span>可以适用AMPTEK所有封装产品，完全匹配

• XR100FASTSDDwithPX5

• X-123FASTSDD

• OEM Configurations

• Vacuum Applications

分辨率：Be(0.5mil) and C windows