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Amptek FAST SDD C系列窗口探测?/div>
Amptek FAST SDD C系列窗口探测器的图片
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面议
品牌9/dt>
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806
样本9/dt>
暂无
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产地9/dt>
美国
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认证信息
高级会员 2平/div> 称: AMPTEK INC.
证:工商信息已核宝br /> 访问量:11824
产品简今/div>

Amptek获得**的 C系列 X射线窗利用氮化硅(Si3N4)和铝涂层来将我们的硅漂移检测器(SDD)的低能量响应扩展到硼(Be(/span>、/span>

应用领域

C1 Windows:实验室,台式和手持式仪器、/span>

C2 Windows:扫描电子显微镜(SEM)中的真空应用程序和EDS(EDX)。C2窗在*低能量下具有更高的效玆/span>

C2窗FASTSDD测试Be和C谱图

C2窗与聚合物窗效率对比

FASTSDD典型分辨玆/p>

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