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HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列

HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列
  • 品牌9span>HORIBA
  • 产地9span>日本
  • 关注度:11738
  • 型号9span>SZ-100系列
  • 报价9span class="jg_red">面议
  • 信息完整度:
核心参数
  • 测量范围9span>0.3nm-8.0μm
  • 仪器原理9span>其他
  • 测量时间9span>2分钟
产品介绍

SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液、/p>

颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm 8 µm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降、/p>

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是说,样品处于等电点),就要考虑选择**条件将颗粒进行絮凝和分离、/p>

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液,然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线,从而计算出Mw和A2、/p>

特征

  • 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一?/p>

  • 宽检测范围,宽浓度范図/p>

  • 双光路双角度粒径测量?0° ?73°(/p>

  • 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射先/p>

  • 用于粒径和zeta电位检测的微量样品江/p>

  • 自动滴定仪:可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

测量范围

  • 颗粒直径?.3nm-8.0μm


测量精度

  • 粒径:按照ISO 13321/22412

    • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒?00nm测量精度= +/- 2%

浓度

  • 下限?.1 mg/mL溶菌酵/p>

  • 上限?0 wt % (视样品而定(/p>

测量时间

  • 粒径分析一般需大约2分钟(可自行设?

样品江/strong>

  • 比色皿样品池

取样野/strong>

    • 12μl ?nbsp;4ml* ? 取样量取决于样品池容量。)


Zeta电位:激光多普勒泔/strong>

测量范围

  • -200 +200mV


测量时间

    • 一般需大约2分钟

样品江/strong>

  • 专用一次性样品池

取样野/strong>

    • ~100μl,一次性样品池

分子量:静态光散射德拜曲线泔/strong>

测量范围

  • Mw: 1×103- 2×107g/mol

样品江/strong>

  • 比色皿样品池

物理参数

电源9/strong>AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

激光:二极管泵浦倍频激光器 532 nm?0 mW I?/p>

接口9/strong>USB 2.0,连接电脑与设备

外形尺寸9/strong>385(D) ´ 528(W) ´ 273(H) mm (不计凸起部分)

重量9/strong>25kg

控温范围9/strong>1-90℃,电极池和塑料池上限为70ℂ/p>

工作环境9/strong>15-35℃,相对湿度?5%,无结露

冷凝控制9/strong>可连接吹扫气

测量技?/h2>

SZ-100采用动态光散射技术测量粒径。样品颗粒在池中做布朗运动。光源照入样品池,散射光?0° ?73°检测器采集(如下图所示)。系统根据样品浓度和光强自动选择**的散射角和样品池位置、/p>

请参见动态光散射具体介绍

散射光信号进入到一个多通道的相关器,生成自相关函数用以确定颗粒的多分散系数。然后用Stokes-Einstein方程式计算粒径。可根据样品量和测量目的自定义样品池、/p>

zeta电位测量可使用一次性塑料电极样品池。系统先测量样品的电导率,施加一个电场,然后用电泳光散射测量粒子运动。电荷的正负决定着粒子的移动方向,而移动方向和移动速度决定了电荷的数量级(zeta电位)。zeta电位的结果可用于衡量分散体系的稳定性、/p>

请参见Zeta 电位技术具体介绌/p>

SZ-100通过对不同浓度样品进行静态光散射测量计算出其**分子量值。通过德拜曲线及样品浓度就可得出分子量和第二维利系数、/p>

请参见分子量测量技术具体介绌/p>

所有这些测量都通过菜单运行,软件操作简单。可以选择合适的样品进行导航程序设定。初学者可以选择默认参数以得到好且高重现性的数据。对于清楚知道样品分析的熟练者可在高级选项中进行追加设置、/p>


问商宵/div>

  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列的工作原理介绍?
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列的使用方法?
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列多少钱一台?
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列使用的注意事顸/li>
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列的说明书有吗>/li>
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列的操作规程有吗?
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列的报价含票含运费吗?
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列有现货吗>/li>
  • HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100系列包安装吗>/li>
工商信息

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企业类型

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自从1953年成立以来,堀场制作所已经成长为一个主要的分析检测仪器和设备制造商,并且以其高精尖的产品成功地将市场拓展到了全球各个国家和地区。堀场的产品几乎应用于所有的工业领域企业中的产品研发和质量控制,包括汽车、半导体、新材料、能源、冶金、食品加工以及科学研究等领域。堀场的发动机排放分析仪一直在促进着世界范围内的汽车厂商对低排放高燃烧效率发动机的开发;公司的大气污染监测仪和酸雨检测设备在调查引起全世界关注的环境问题的原因方面起着极其重要的作用。堀场以为环境保护做贡献

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