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HORIBA纳米颗粒分析 SZ-100 V2

HORIBA纳米颗粒分析 SZ-100 V2
  • 品牌9span>HORIBA
  • 产地9span>上海
  • 关注度:4122
  • 型号9span> SZ-100 V2
  • 报价9span class="jg_red">面议
  • 信息完整度:
核心参数
  • 仪器原理9span>动态光散射
  • 测量范围9span>-500 mV +500 mV
产品介绍

SZ-100 V2 纳米颗粒分析?/strong>是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定:span style="white-space: pre-wrap;">还可以用亍/span>检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数、/strong>


SZ-100 V2纳米颗粒分析?/strong>典型应用包括9strong>纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液、/strong>


产品特点


·同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系?/span>

·宽检测范围,宽浓度范図/strong>—–span style="white-space: pre-wrap;">样品浓度可达40%

·自动滴定?/strong>——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

· 软件操作简单功能强大,一键测野/span>

·双光路双角度粒径测量?0° ?73°(br/>

·采用微量样品江/strong>


技术参?/strong>


粒径测量原理9/strong>动态光散射法(光子相关光谱法)

粒径测定范围9/strong>0.3nm ?0μm

粒径测量精度9/strong>±2%(NIST 可溯源标准粒?00nm(/span>

Zeta 电位测量原理9/strong>激光多普勒电泳泔/span>

Zeta 电位测量范围9/strong>-500 mV +500 mV

分子量测量原理:Debye plot

分子量测量范围:1000 2×107 Da

测量角度9/strong>90° ?73°(可自动或手动选择(/span>

样品量:12μL 1000μL


问商宵/div>

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